X-Ray 非破坏式穿透检查机

Jing Teng Tech Limited Company
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X-eye 5100 Series 非破坏式穿透检查机

X-eye 5100系列为标准型X射线检测设备,专门检测半导体SMT及电子/电池零件,非破坏分析设备。并且进行生产检查SMT及电子/电池零件的S / W。 。

X-eye SF160 Series 非破坏式穿透检查机

X-eye SF160系列为研究分析用X射线CT检测设备,具有2D和3D Micro CT系统与Micro-Open Tube,以双CT功能实现最高的CT影像/提供高速扫描。

X-eye 6300 非破坏式穿透检查机

高速3D在线检查系统(〜4.3秒/ FOV)
双面PCB的最佳解决方案
使用寿命长的混合管,可在线使用(10,000小时/单丝)