X-Ray 非破坏式穿透检查机
Jing Teng Tech Limited Company
X-eye 5100 Series 非破坏式穿透检查机
X-eye 5100系列为标准型X射线检测设备,专门检测半导体SMT及电子/电池零件,非破坏分析设备。并且进行生产检查SMT及电子/电池零件的S / W。 。
X-eye SF160 Series 非破坏式穿透检查机
X-eye SF160系列为研究分析用X射线CT检测设备,具有2D和3D Micro CT系统与Micro-Open Tube,以双CT功能实现最高的CT影像/提供高速扫描。