X-Ray 非破坏式穿透检查机

X-eye 5100系列为标准型X射线检测设备，专门检测半导体SMT及电子/电池零件，非破坏分析设备。并且进行生产检查SMT及电子/电池零件的S / W。 。

X-eye SF160系列为研究分析用X射线CT检测设备，具有2D和3D Micro CT系统与Micro-Open Tube，以双CT功能实现最高的CT影像/提供高速扫描。

高速3D在线检查系统（〜4.3秒/ FOV）
双面PCB的最佳解决方案
使用寿命长的混合管，可在线使用（10,000小时/单丝）